用霍尔元件等磁敏元件检测被磁化材料表面逸出的漏磁场，就可判断缺陷是否存在。同样尺寸的缺陷，位于表面上和表面下形成的漏磁场不同：表面上缺陷产生的漏磁场大,缺陷在表面下时，形成的漏磁场将显著变小。所以，漏磁通法适用于各种铁磁材料，可以对裂纹、腐蚀等缺陷进行检验，并可以判断缺陷的位置，且检测时不需要耦合剂，也不容易发生漏检。